Mono-Si plokštelėms 158,75 mm visas kvadratas iki antrojo pusmečio taps labiausiai pritaikytu dizainu. Tik nedaugelis gamintojų naudoja didesnes nei šis plokšteles. Pavyzdžiui, „LG“ ir „Hanwha Q Cells“ naudoja M4 plokšteles (161,7 mm), o „Longi“ reklamuoja 166 mm plokšteles.
Aukščiausio lygio „Full Square Mono Wafers“ padidino šviesos ekspoziciją to paties lygio daugialypėje plokštelėje, išplėsdami kvadratinį matą. Plokštės visada yra visiškai kvadratinės, kad optimaliai pritaikytų PV modulį.
1 Medžiagos savybės
Nuosavybė | Specifikacija | Tikrinimo metodas |
Augimo metodas | CZ | |
Kristališkumas | Monokristalinis | Lengvatinės ėsdinimo technikos（ASTM F47-88） |
Laidumo tipas | N tipo | „Napson EC-80TPN“ |
Dopantas | Fosforas | - |
Deguonies koncentracija [Oi] | ≦8E+17 at / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Anglies koncentracija [Cs] | ≦5E+16 at / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Išgraviruoti duobės tankį (dislokacijos tankis) | ≦500 cm-3 | Lengvatinės ėsdinimo technikos（ASTM F47-88） |
Paviršiaus orientacija | & 100> ± 3 ° | Rentgeno difrakcijos metodas (ASTM F26-1987) |
Pseudo kvadratinių pusių orientacija | & lt 010> ;,< 001=""> ± 3 ° | Rentgeno difrakcijos metodas (ASTM F26-1987) |
2 Elektrinės savybės
Nuosavybė | Specifikacija | Tikrinimo metodas |
Atsparumas | 0,3-2,1 Ω.cm 1,0-7,0 Ω.cm | Vaflių tikrinimo sistema |
MCLT (mažumos operatoriaus tarnavimo laikas) | ≧ 1000 μs (varža 0,3-2,1 Ω.cm) | Sintonas laikinas |
3 Geometrija
Nuosavybė | Specifikacija | Tikrinimo metodas |
Geometrija | Visas kvadratas | |
Vaflinės šono ilgis | 158,75 ± 0,25 mm | plokštelių tikrinimo sistema |
Vaflių skersmuo | ~ 223 ± 0,25 mm | plokštelių tikrinimo sistema |
Kampas tarp gretimų šonų | 90° ± 0.2° | plokštelių tikrinimo sistema |
Storis | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | plokštelių tikrinimo sistema |
TTV (bendras storio pokytis) | ≤ 27 µm | plokštelių tikrinimo sistema |
4 Paviršiaus savybės
Nuosavybė | Specifikacija | Tikrinimo metodas |
Pjovimo būdas | DW | -- |
Paviršiaus kokybė | kaip supjaustyti ir išvalyti, nėra matomo užteršimo (neleidžiami aliejaus ar riebalų, pirštų atspaudai, muilo dėmės, srutų dėmės, epoksidinės / klijinės dėmės) | plokštelių tikrinimo sistema |
Pjūklų žymės / laipteliai | ≤ 15µm | plokštelių tikrinimo sistema |
Nusilenkti | ≤ 40 µm | plokštelių tikrinimo sistema |
Metmenys | ≤ 40 µm | plokštelių tikrinimo sistema |
Čipas | gylis ≤0,3 mm ir ilgis ≤ 0,5 mm, maks. 2 / vnt; nėra V lusto | Plikomis akimis arba plokštelių tikrinimo sistema |
Mikro įtrūkimai / skylės | Neleidžiama | plokštelių tikrinimo sistema |
Populiarus Žymos: n tipo 158,75 mm monokristalinė saulės plokštelė, Kinija, tiekėjai, gamintojai, gamykla, pagaminta Kinijoje
