Šiuo metu silicio saulės PV daugiausia naudoja 156.75mm x 156.75mm P tipo monokristalinės plokštelės, tačiau kai kurie iš jų yra migruoja į didesnių plokštelių ir ląstelių dydžių, tokių kaip 158.75mm x 158.75mm. Kai kurie gamintojai jau pradėjo šį procesą. Viena iš priežasčių, dėl kurių 158,75 mm kvadratinių plokštelių vis daugiau dėmesio skiriama, yra ta, kad artimo modulio matmenys iki praeities standartinių 60 ląstelių ir72 elementų moduliai, užtikrinantys esamos gamybos įrangos modifikavimą ir išlaikymą.
Ateityje mono-Si plokštelės, 158.75mm visą kvadratą taps labiausiai priimtas dizainas dauguma saulės fotovoltinių produktų gamintojų. Žinoma, yra keletas gamintojų naudoja plokšteles, kurios yra didesnės nei ši. Lg ir Hanwha Q ląstelės, pavyzdžiui, naudoti M4 plokštelės (161.7mm), o Longi yra skatinti 166mm (M6) plokštelės.
1 Medžiagų savybės
nuosavybė | Specifikacijos | Tikrinimo metodas |
Augimo metodas | Cz | |
Kristališkumas | Monokristalinis
| Lengvatiniai Etch metodai（ASTM F47-88） |
Laidumo tipas | P tipas | Napsonas EC-80TPN P/N |
Dopant
| Boras, Gallis
| - |
Deguonies koncentracija[Oi] | ≦8E+17 prie/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Anglies koncentracija[Cs] | ≦5E+16 esant/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Etch duobės tankis (dislokacijos tankis) | ≦500 cm-3 | Lengvatiniai Etch metodai（ASTM F47-88） |
Paviršiaus padėtis | <100>±3° | Rentgeno spindulių difrakcijos metodas (ASTM F26-1987) |
Pseudo kvadratinių pusių orientacija | <010>,<001>±3° | Rentgeno spindulių difrakcijos metodas (ASTM F26-1987) |
2 Elektrinės savybės
nuosavybė | Specifikacijos | Tikrinimo metodas |
Atsparumas | 0,5-1,5 Ωcm | Plokštelių tikrinimo sistema |
MCLT (mažumos vežėjo tarnavimo laikas) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (su injekcijos lygiu: 1E15 Cm-3) |
3 geometrija
nuosavybė | Specifikacijos | Tikrinimo metodas |
geometrija | Visas kvadratas | |
Vaflių šoninis ilgis | 158,75±0,25 mm | plokštelių tikrinimo sistema |
Plokštelių skersmuo | φ223±0,25 mm | plokštelių tikrinimo sistema |
Kampas tarp gretimų pusių | 90° ± 0,2° | plokštelių tikrinimo sistema |
Storis | 180﹢20/﹣10 μm; 170﹢20/﹣10 μm | plokštelių tikrinimo sistema |
TTV (bendras storio pokytis) | ≤27 μm | plokštelių tikrinimo sistema |
4 Paviršiaus ypatybės
nuosavybė | Specifikacijos | Tikrinimo metodas |
Pjovimo metodas | Dw | -- |
Paviršiaus kokybė | supjaustyti ir išvalyti, nėra matomo užteršimo (neleidžiama naudoti aliejaus ar tepalo, pirštų atspaudų, muilo dėmių, srutų dėmių, epoksidinių ir (arba) klijų dėmių) | plokštelių tikrinimo sistema |
Pjūklo žymės / žingsniai | ≤ 15μm | plokštelių tikrinimo sistema |
lankas | ≤ 40 μm | plokštelių tikrinimo sistema |
Metmenų | ≤ 40 μm | plokštelių tikrinimo sistema |
Lustas | gylis ≤0.3mm ir ilgis ≤ 0.5mm Max 2/vnt; be V lusto | Plika akimi arba plokštelių tikrinimo sistema |
Mikro įtrūkimai / skylės | Neleidžiama | plokštelių tikrinimo sistema |
Populiarus Žymos: p tipas 158.75mm monokristalinės saulės plokštelės, Kinija, tiekėjai, gamintojai, gamykla, pagaminti Kinijoje
