P tipas M12 Monokristalinis saulės plokštelė

P tipas M12 Monokristalinis saulės plokštelė

2019 m. buvo išplautos M12 (210 mm x 210 mm) p tipo mono plokštelės (295 mm skersmens silicio luitas). Buvo tikimasi, kad 6 col. formatą M2 (156,75 mm x 156,75 mm) įdės M12 ir M6.
Share to
Siųsti užklausą
Pokalbis dabar
Aprašymas
Techniniai parametrai


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


2019 m. buvo išplautos M12 (210 mm x 210 mm) p tipo mono plokštelės (295 mm skersmens silicio luitas). Tikimasi, kad 6 col. formatą M2 (156,75 mm x 156,75 mm) įdės M12 ir M6.


1      Medžiagų savybės

 

nuosavybė

Specifikacijos

Tikrinimo metodas

Augimo metodas

Cz


Kristališkumas

Monokristalinis

 

Lengvatiniai Etch metodai(ASTM F47-88)

Laidumo tipas

P tipas

Napsonas EC-80TPN

P/N

Dopant

 

Boras, Gallis

 

-

Deguonies koncentracija[Oi]

≦8E+17 prie/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Anglies koncentracija[Cs]

≦5E+16 esant/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Etch duobės tankis (dislokacijos tankis)

≦500 cm-3

Lengvatiniai Etch metodai(ASTM F47-88)

Paviršiaus padėtis

<100>±3°

Rentgeno spindulių difrakcijos metodas (ASTM F26-1987)

Pseudo kvadratinių pusių orientacija

<010>,<001>±3°

Rentgeno spindulių difrakcijos metodas (ASTM F26-1987)

 

2      Elektrinės savybės

 

nuosavybė

Specifikacijos

Tikrinimo metodas

Atsparumas

0,5-1,5 Ωcm

Plokštelių tikrinimo sistema

MCLT (mažumos vežėjo tarnavimo laikas)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(su injekcijos lygiu: 1E15 Cm-3)

 

3      geometrija

 

nuosavybė

Specifikacijos

Tikrinimo metodas

geometrija

Visas kvadratas


Vaflių šoninis ilgis

210±0,25 mm

plokštelių tikrinimo sistema

Plokštelių skersmuo

φ295±0,25 mm

plokštelių tikrinimo sistema

Kampas tarp gretimų pusių

90° ± 0,2°

plokštelių tikrinimo sistema

Storis

180﹢20/﹣10 μm;

170﹢20/﹣10 μm

plokštelių tikrinimo sistema

TTV (bendras storio pokytis)

≤27 μm

plokštelių tikrinimo sistema


 210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

 

 

4      Paviršiaus ypatybės

 

nuosavybė

Specifikacijos

Tikrinimo metodas

Pjovimo metodas

Dw

--

Paviršiaus kokybė

supjaustyti ir išvalyti, nėra matomo užteršimo (neleidžiama naudoti aliejaus ar tepalo, pirštų atspaudų, muilo dėmių, srutų dėmių, epoksidinių ir (arba) klijų dėmių)

plokštelių tikrinimo sistema

Pjūklo žymės / žingsniai

≤ 15μm

plokštelių tikrinimo sistema

lankas

≤ 40 μm

plokštelių tikrinimo sistema

Metmenų

≤ 40 μm

plokštelių tikrinimo sistema

Lustas

gylis ≤0.3mm ir ilgis ≤ 0.5mm Max 2/vnt;   be V lusto

Plika akimi arba plokštelių tikrinimo sistema

Mikro įtrūkimai / skylės

Neleidžiama

plokštelių tikrinimo sistema




Populiarus Žymos: p tipo m12 monokristalinės saulės plokštelės, Kinija, tiekėjai, gamintojai, gamykla, pagaminti Kinijoje

Siųsti užklausą
Siųsti užklausą